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 Study of dielectric properties in stacked high-k dielectric metal oxide semiconductor capacitor (MOSCAP) devices 叠层高k介质金属氧化物半导体电容器（MOSCAP）的介电特性研究
相关领域
电容器
电介质
材料科学
半导体
光电子学
高-κ电介质
氧化物
金属
电气工程
冶金
电压
工程类
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期刊：Journal of Materials Science Materials in Electronics 作者：Makhes K. Behera; Kelsea Yarbrough; M. Bahoura 出版日期：2024-07-01 |
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