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 Multi-ion scattering of charged carriers by ionized impurities in heavily doped semiconductors: From bulk to nanowires 重掺杂半导体中电离杂质对带电载流子的多离子散射：从体到纳米线
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期刊：Journal of Applied Physics 作者：K. L. Kovalenko; S. I. Kozlovskiy; N. N. Sharan; Eugeniy F Venger 出版日期：2022-03-28 |
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