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Damage thresholds of thin film materials and high reflectors at 248 nm
薄膜材料和高反射器在248 nm处的损伤阈值
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期刊: 作者:F. Rainer; W. H. Lowdermilk; D. Milam; C. K. Carniglia; TT Hart; et al 出版日期:1982-01-01 |
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