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用于氧化铀颗粒快速核取证评估的TOF-SIMS
相关领域
铀
氧化铀
贫化铀
二次离子质谱法
材料科学
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色谱法
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亚马逊:https://www.amazon.com/TOF-SIMS-Nuclear-Forensics-Evaluation-Particles/dp/1288368577 出版社 : Biblioscholar 出版日期 : 2012年 11月 29日 语言 : 英语 纸书页数 : 210页 ISBN-10 : 1288368577 ISBN-13 : 978-1288368570 |
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