Investigation of useful or deleterious residual thermal stress component to the capacitance of a multilayer ceramic capacitor

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标题	Investigation of useful or deleterious residual thermal stress component to the capacitance of a multilayer ceramic capacitor
网址	https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S016793170...
DOI	10.1016/j.mee.2004.11.008 doi
其它	期刊：Microelectronic Engineering 作者：Hyunho Shin; Jong-Sung Park; Sujin Kim; Hyun Suk Jung; Kug Sun Hong 出版日期：2004-12-16
求助人	LB 在 2026-10-17 14:58:16 发布自福建，悬赏 10 积分
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