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Time performance of Analog Pixel Test Structures with in-chip operational amplifier implemented in 65 nm CMOS imaging process 相关领域
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期刊:Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section A Accelerators Spectrometers Detectors and Associated Equipment 作者:Gianluca Aglieri Rinella; Luca Aglietta; M. Antonelli; F. Barile; F. Benotto; et al 出版日期:2024-11-12 |
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