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 Evaluation on ESD robustness of LTPS diode and TFT device by transmission line pulsing (TLP) technique 用传输线脉冲(TLP)技术评估LTPS二极管和TFT器件的ESD鲁棒性
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期刊： 作者：Ming-Dou Ker; Tang‐Kui Tseng; Sheng‐Chieh Yang; An Shih; Yaw‐Ming Tsai 出版日期：2004-05-06 |
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