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Three-dimensional imaging of dislocations in a nanoparticle at atomic resolution
原子分辨率下纳米粒子位错的三维成像
相关领域
材料科学
位错
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扫描透射电子显微镜
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期刊:Nature 作者:Chien-Chun Chen; Chun Zhu; Edward M. White; Chin‐Yi Chiu; M. C. Scott; et al 出版日期:2013-03-27 |
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