| 标题 |
 DeepEIT: Deep Image Prior Enabled Electrical Impedance Tomography DeepEIT：深度图像先验电阻抗层析成像
相关领域
电阻抗断层成像
计算机科学
迭代重建
人工智能
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断层重建
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期刊：IEEE Transactions on Pattern Analysis and Machine Intelligence 作者：Dong Liu; Junwu Wang; Qianxue Shan; Danny Smyl; Jiansong Deng; et al 出版日期：2023-08-01 |
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