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 Ferroelectric Properties and Polarization Fatigue of La:HfO2 Thin‐Film Capacitors La：HfO2薄膜电容器的铁电性能及极化疲劳
相关领域
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材料科学
电容器
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期刊：physica status solidi (RRL) - Rapid Research Letters 作者：Xiaofei Li; Chen Li; Zhiyu Xu; Yongsheng Li; Yihao Yang; et al 出版日期：2021-01-27 |
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sen
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