| 标题 |
 The mechanism of single-event burnout in NiO/β-Ga2O3 heterojunction diodes under atmospheric neutron irradiation 相关领域
材料科学
二极管
异质结
热失控
光电子学
阴极
电离
撞击电离
晶体缺陷
偏压
热的
中子
结温
聚焦离子束
反向漏电流
电场
发光二极管
辐照
雪崩击穿
电压
辐射
离子
宽禁带半导体
扫描电子显微镜
失效机理
温度测量
电流密度
电子束感应电流
电子
|
| 网址 |
求助人暂未提供
|
| DOI |
暂未提供，该求助的时间将会延长，查看原因？
|
| 其它 | Applied Physics Letters, 2026, 128(2), 023501. |
| 求助人 | |
| 下载 | 暂无链接，等待应助者上传 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)
无极微光
cdercder
伶俐妙海
Copyright
yjh123
phdbio
Nexus
潇洒的惋清
Nole
huang
sagitar
arniu2008
行走的荷尔蒙
Criminology34
tiptip
kimyb
Kao
初景
OK
dew
皖公网安备34019202002308
