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Parametric studies of nanoscale through-silicon vias under the reflow in advanced packaging 先进封装中纳米级硅通孔回流的参数研究
相关领域
材料科学
纳米尺度
硅
参数统计
工程物理
纳米技术
光电子学
工程类
数学
统计
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| 其它 |
期刊:Materials Science in Semiconductor Processing 作者:Luchao Wu; Ziyu Liu; Jun Wang 出版日期:2024-10-07 |
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