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Deep learning of crystalline defects from TEM images: a solution for the problem of ‘never enough training data’ 从TEM图像中深度学习晶体缺陷:“训练数据永远不够”问题的解决方案
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期刊:Machine Learning Science and Technology 作者:Kishan Govind; Daniela Oliveros; A. Dlouhý; M. Legros; Stefan Sandfeld 出版日期:2024-01-03 |
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