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Passivation of hole traps in SiO2/GaN metal-oxide-semiconductor devices by high-density magnesium doping 高密度镁掺杂对SiO2/GaN金属氧化物半导体器件空穴陷阱的钝化
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期刊:Applied Physics Express 作者:Hidetoshi Mizobata; Mikito Nozaki; Takuma Kobayashi; Takayoshi Shimura; Heiji Watanabe 出版日期:2023-09-22 |
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