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An SEU-hardened ternary SRAM design based on efficient ternary C-elements using CNTFET technology 相关领域
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期刊:Microelectronics Reliability 作者:Vahid Bakhtiary; Abdolah Amirany; Mohammad Hossein Moaiyeri; Kian Jafari 出版日期:2022-12-05 |
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