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Analyzing the synchronism of stacking-fault formation in side-by-side SiC nanowire pairs using the Levenshtein distance: stochastic versus deterministic processes 用Levenshtein距离分析并排SiC纳米线对中堆垛层错形成的同步性:随机与确定性过程
相关领域
堆积
纳米线
同步性
碳化硅
材料科学
结晶学
纳米技术
化学
计算机科学
复合材料
电信
有机化学
异步通信
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| 其它 |
期刊:Microscopy 作者:Fuka Moriuchi; Hideo Kohno 出版日期:2022-12-28 |
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