Thermal transient characterization of semiconductor devices with multiple heat sources—Fundamentals for a new thermal standard

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标题	Thermal transient characterization of semiconductor devices with multiple heat sources—Fundamentals for a new thermal standard
网址	https://doi.org/10.1016/j.mejo.2014.11.001
DOI	10.1016/j.mejo.2014.11.001 doi
其它	期刊：Microelectronics Journal 作者：Dirk Schweitzer; Ferenc Ender; Gusztáv Hantos; Péter G. Szabó 出版日期：2015
求助人	Daisy 在 2026-03-09 19:44:52 发布自四川，悬赏 10 积分
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