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Ellipsometry study of the dielectric function of Ag2Se thin films deposited by electrodeposition
电沉积Ag2Se薄膜介电函数的椭偏法研究
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材料科学
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期刊:Materials Letters 作者:C.A.M. Román-Varela; C.J. Diliegros-Godines; M.E. Calixto; E. López-Cruz 出版日期:2024-03-20 |
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