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Modeling to Predict Effective Dielectric Constant of Porous Silicon Low-Dielectric-constant Thin Films 预测多孔硅低介电常数薄膜有效介电常数的建模
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期刊:Spectroscopy Letters 作者:K. Rahmoun; Souheyla Fakiri 出版日期:2014-03-05 |
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