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  An Approach to Determine Noise Model Parameter for Submicron MOSFET from RF Noise Figure Measurement 一种由射频噪声系数测量确定亚微米MOSFET噪声模型参数的方法
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期刊：IEEE Journal of the Electron Devices Society 作者：Hanqi Gao; Jing Jin; Jianjun Zhou 出版日期：2024-01-01 |
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