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Characterization of peripheries of n-GaN Schottky contacts using scanning internal photoemission microscopy 用扫描内光电发射显微镜表征n-GaN肖特基接触的外围
相关领域
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期刊:Japanese Journal of Applied Physics 作者:Hiroki Imabayashi; Yuto Yasui; Fumimasa Horikiri; Yoshinobu Narita; Noboru Fukuhara; et al 出版日期:2022-08-29 |
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