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 Failure Probability due to Radiation-Induced Effects in FinFET SRAM Cells under Process Variations 相关领域
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期刊：Journal of Electronic Testing 作者：Victor Champac; Hector Villacorta; R. Gómez-Fuentes; Fabian Vargas; J. Segura 出版日期：2024-02-01 |
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