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 Ultrasensitive Refractive Index Sensing Based on the Quasi‐Bound States in the Continuum of All‐Dielectric Metasurfaces 相关领域
材料科学
折射率
电介质
纳米柱
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纳米光子学
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物理
纳米技术
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期刊：Advanced Optical Materials 作者：Hui‐Hsin Hsiao; Yi‐Chien Hsu; Ai‐Yin Liu; Jou‐Chun Hsieh; Yu‐Hsin Lin 出版日期：2022-08-04 |
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