标题 |
![]() 由多层合成的薄膜化合物化学计量的光学测量:Cu(In,Ga)Se2的例子
相关领域
材料科学
纳米尺度
薄膜
化学计量学
千分尺
纳米技术
半导体
分辨率(逻辑)
化合物半导体
图层(电子)
光电子学
分析化学(期刊)
光学
化学
计算机科学
物理
有机化学
色谱法
人工智能
外延
|
网址 | |
DOI | |
其它 |
期刊:Microscopy and Microanalysis 作者:Ricardo G. Poeira; Daniel Siopa; Pedro Anacleto; Sascha Sadewasser; Phillip J. Dale 出版日期:2023-10-18 |
求助人 |
甄小白
在
2025-08-23 09:10:57 发布,悬赏 10 积分
|
下载 | |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|