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 Localized power spectral density analysis on atomic force microscopy images for advanced patterning applications 用于高级图案化应用的原子力显微镜图像的局部功率谱密度分析
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期刊： 作者：Alain Moussa; Mohamed Saib; Sara Paolillo; Frédéric Lazzarino; A. Illiberi; et al 出版日期：2019-03-26 |
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