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Spectroscopic ellipsometry studies on hydrogenated amorphous silicon thin films deposited using DC saddle field plasma enhanced chemical vapor deposition system |
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期刊:Thin Solid Films 作者:Jhantu Kumar Saha; Barzin Bahardoust; Keith Leong; Adel B. Gougam; Nazir P. Kherani; Stefan Zukotynski 出版日期:2010-12-22 |
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