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![]() TiN表面处理抑制具有极薄功函数金属层的N-FinFETs的阈值电压变化
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期刊:IEEE Transactions on Electron Devices 作者:Huang Tao; Run-Ling Li; Han-Lun Cai; Zhao-Yang Li; Yu-Long Jiang 出版日期:2023-04-01 |
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