标题 |
Sensitivity of photoelectron energy loss spectroscopy to surface termination of amorphous carbon and diamond films
光电子能量损失谱对非晶碳和金刚石薄膜表面终止的敏感性
相关领域
X射线光电子能谱
灵敏度(控制系统)
材料科学
类金刚石碳
钻石
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纳米技术
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复合材料
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物理
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期刊:HAL (Le Centre pour la Communication Scientifique Directe) 作者:Denis J. David; M.‐A. Pinault; D. Ballutaud; C. Godet 出版日期:2012-05-14 |
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