| 标题 |
Generation of deep levels near the 4H-SiC surface by thermal oxidation 热氧化在4H-SiC表面附近产生深能级
相关领域
深能级瞬态光谱
导带
材料科学
热氧化
谱线
表面状态
航程(航空)
GSM演进的增强数据速率
曲面(拓扑)
分析化学(期刊)
光电子学
化学
复合材料
硅
几何学
电信
物理
环境化学
天文
电子
量子力学
计算机科学
数学
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:Applied Physics Express 作者:Haruki Fujii; Mitsuaki Kaneko; Tsunenobu Kimoto 出版日期:2024-04-01 |
| 求助人 | |
| 下载 | |
|
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|