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![]() 热耦合效应对UTBB SOI MOSFET对数模品质因数的影响
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期刊:Solid-State Electronics 作者:Martin Vanbrabant; Jean-Pierre Raskin; Denis Flandre; Valeriya Kilchytska 出版日期:2023 |
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gexzygg
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2025-08-29 12:02:20 发布,悬赏 10 积分
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