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 Study of Vertical Ga2O3 FinFET Short Circuit Ruggedness using Robust TCAD Simulation 基于鲁棒TCAD仿真的垂直Ga2O3 FinFET短路鲁棒性研究
相关领域
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光电子学
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期刊：ECS Journal of Solid State Science and Technology 作者：Albert Lu; Adam Elwailly; Yuhao Zhang; Hiu Yung Wong 出版日期：2022-11-01 |
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