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 Chlorine and sulfur effects on copper-aluminum wire bond reliability 氯和硫对铜铝引线键合可靠性的影响
相关领域
引线键合
材料科学
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期刊：2022 IEEE 24th Electronics Packaging Technology Conference (EPTC) 作者：Liao Jinzhi Lois; Bisheng Wang; Xi Zhang; Hua Younan; Xiaomin Li 出版日期：2022-12-07 |
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