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  A comparable study of defect diffusion and recombination in Si and GaN Si和GaN中缺陷扩散和复合的比较研究
相关领域
半导体
扩散
材料科学
晶体缺陷
消灭
重组
硅
化学物理
化合物半导体
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光电子学
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纳米技术
化学
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物理
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量子力学
生物化学
图层（电子）
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期刊：Journal of applied physics 作者：Xiang-Ru Han; Yang Li; Pei Li; Xiaolan Yan; Xiaoqiang Wu; et al 出版日期：2022-07-25 |
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