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  Modeling and Verification of 1/f Noise Mechanisms in FAPbBr 3 Single‐Crystal X‐Ray Detectors 相关领域
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期刊：Advanced Electronic Materials 作者：Zhongyu Yang; Qingli Zhang; Yuting Liu; Binbin Liu; Zhiping Zheng; et al 出版日期：2026-01-06 |
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