标题 |
![]() HfO2/Si超薄薄膜界面的化学结构
相关领域
X射线光电子能谱
化学状态
透射电子显微镜
硅酸盐
分析化学(期刊)
图层(电子)
电介质
材料科学
硅
电子光谱学
高-κ电介质
谱线
反褶积
结合能
化学
结晶学
化学物理
原子物理学
纳米技术
核磁共振
光电子学
光学
物理
天文
有机化学
色谱法
|
网址 | |
DOI | |
其它 |
期刊:Applied Physics Letters 作者:Jong-Cheol Lee; S.-J. Oh; Moonju Cho; Cheol Seong Hwang; Ranju Jung 出版日期:2004-02-13 |
求助人 | |
下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|