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  Investigation of thermal stress effects on subthreshold conduction in nanoscale p-FinFET from Multiphysics perspective 从多物理角度研究热应力对纳米p-FinFET亚阈值传导的影响
相关领域
多物理
材料科学
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期刊：Journal of Applied Physics 作者：Huali Duan; Er‐Ping Li; Qinyi Huang; Da Li; Zhufei Chu; et al 出版日期：2024-03-12 |
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(2025-6-4)
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