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Investigation on Data Retrieval in Emerging Non-Volatile Memory Devices Using Conductive Probe Atomic Force Microscopy |
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期刊:2023 IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA) 作者:J. Y. Tay; J. Cheah; S. Chef; X. M. Zeng; Q. Liu; et al 出版日期:2023-09-20 |
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(2025-6-4)