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![]() 通过热氧化降低n型4 H-SiC中EH 6/7深能级,提高辐射检测性能
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期刊:Applied Physics Letters 作者:OmerFaruk Karadavut; Sandeep K. Chaudhuri; Joshua W. Kleppinger; Ritwik Nag; Krishna C. Mandal 出版日期:2022-07-04 |
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