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Compact Modeling of 3D NAND Flash Memory With Ferroelectric Characteristics: A Comparative Analysis of O/N/O and O/N/F Structures |
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期刊:IEEE Journal of the Electron Devices Society 作者:Sunghyun Woo; Jihwan Lee; Gyunseok Ryu; Myounggon Kang 出版日期:2025 |
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(2025-6-4)