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Full-field measurement of residual stress in single-crystal diamond substrates based on Mueller matrix microscopy
基于Mueller矩阵显微镜的单晶金刚石基体残余应力全场测量
相关领域
残余应力
材料科学
钻石
显微镜
光学显微镜
领域(数学)
基质(化学分析)
单晶
残余物
光学
结晶学
复合材料
计算机科学
化学
算法
物理
扫描电子显微镜
数学
纯数学
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期刊:Measurement 作者:Ziqing Li; Changcai Cui; Oriol Arteaga; Subiao Bian; Tao Han; et al 出版日期:2024-04-01 |
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