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 Selective Engineering of Chalcogen Defects in MoS2 by Low-Energy Helium Plasma 相关领域
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期刊：ACS Applied Materials and Interfaces 作者：Bin-Jie Huang; F. Tian; Youde Shen; Min-Rui Zheng; Yun-Shan Zhao; et al 出版日期：2019-06-14 |
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