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New critical dimension optical metrology for submicron high-aspect-ratio structures using spectral reflectometry with supercontinuum laser illumination |
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期刊:Photonics Europe 作者:Wei-Hsin Chein; Fu-Sheng Yang; Komal Thakur; Guo-Wei Wu; Liang-Chia Chen 出版日期:2022-05-24 |
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