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![]() 通过自动化、高通量计算工作流程对固体材料的r2SCAN和SCAN metaGGA密度泛函的性能比较
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期刊: 作者:Ryan Kingsbury; Ayush S. Gupta; Christopher J. Bartel; Jason M. Munro; Shyam Dwaraknath; et al 出版日期:2021-09-13 |
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