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 Raman and XPS characterization of vanadium oxide thin films deposited by reactive RF sputtering 反应射频溅射沉积氧化钒薄膜的Raman和XPS表征
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期刊：Solar Energy Materials and Solar Cells 作者：E. Cazzanelli; G. Mariotto; Stefano Passerini; William H. Smyrl; A. Gorenstein 出版日期：1999-01-01 |
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