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 Multi-parameter readout chip for interfacing with amperometric, potentiometric and impedometric sensors for wearable and point-of-care test applications 用于与安培、电位和阻抗传感器接口的多参数读出芯片，用于可穿戴和护理点测试应用
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期刊：Microelectronics Journal 作者：Angelito A. Silverio; Wen‐Yaw Chung; Vincent F.S. Tsai; Cheanyeh Cheng 出版日期：2020-04-03 |
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