Electromigration reliability and activation energy of Bi2Te3 thermoelectric film

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标题	Electromigration reliability and activation energy of Bi2Te3 thermoelectric film Bi2Te3热电薄膜的电迁移可靠性和活化能相关领域电迁移热电效应材料科学可靠性（半导体）电流密度多物理热电材料碲化铋工程物理光电子学电流（流体）复合材料电气工程热力学热导率有限元法工程类物理功率（物理）量子力学
网址	https://doi.org/10.1063/5.0081265
DOI	10.1063/5.0081265 doi
其它	期刊：Applied Physics Letters 作者：Chaojie Ren; Wei Zhu; Jie Zhou; Xue Wu; Yuan Deng 出版日期：2022-02-07
求助人	小学霸搞科研在 2024-09-05 15:52:20 发布，悬赏 10 积分
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