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MOS Capacitance Measurements for PEALD TiO2 Dielectric Films Grown under Different Conditions and the Impact of Al2O3 Partial-Monolayer Insertion |
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期刊:Nanomaterials 作者:William Chiappim; Marcos Watanabe; Vanessa Dias; Giorgio Testoni; Ricardo Rangel; et al 出版日期:2020-02-17 |
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(2025-6-4)