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标题
Molten KOH Etching with Na2O2Additive for Dislocation Revelation in 4H-SiC Epilayers and Substrates
加入Na2O2的熔融KOH刻蚀在4H-SiC外延层和衬底中的位错显示
相关领域
蚀刻(微加工) 位错 材料科学 基面 结晶学 GSM演进的增强数据速率 六方晶系 各向同性腐蚀 分析化学(期刊) 复合材料 化学 图层(电子) 色谱法 电信 计算机科学
网址
DOI
10.7567/jjap.50.075502 doi
其它 期刊:Japanese Journal of Applied Physics
作者:Yongzhao Yao; Yukari Ishikawa; Yoshihiro Sugawara; Hitoshi Saitoh; Katsunori Danno; et al
出版日期:2011-07-01
求助人
欣欣丽丽 在 2023-07-26 09:45:56 发布自江苏,悬赏 10 积分
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