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Computational nanometrology of line-edge roughness: noise effects, cross-line correlations and the role of etch transfer 相关领域
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期刊: 作者:George Papavieros; Gian F. Lorusso; Vito Rutigliani; Frieda Van Roey; Εvangelos Gogolides; et al 出版日期:2018-03-20 |
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