| 标题 |
 A Polynomial Kernel Induced Distance Metric to Improve Deep Transfer Learning for Fault Diagnosis of Machines 改进机器故障诊断深度迁移学习的多项式核诱导距离度量
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核（代数）
计算
学习迁移
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经典力学
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期刊：IEEE Transactions on Industrial Electronics 作者：Bin Yang; Yaguo Lei; Feng Jia; Naipeng Li; Zhaojun Du 出版日期：2019-11-25 |
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